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903149

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光电传感器(品牌TEL,通过光学原理感应并传输机台内光电信号,制造半导体的刻蚀零件) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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光栅尺,化学沉积设备用,品牌MIRAE,无测试结果 9031492000 [税目]
光栅测量装置 [第90章其他品目未列名的]
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化学沉积装置用零件感应器 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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光电传感器(品牌TEL,制造半导体的刻蚀专用零件,感应 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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光电感应器(品牌KEYENCE,化学机械研磨机专用零件,通过 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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扫描仪功能测试设备 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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终点探测器,制造半导体器件的干法刻蚀用,LAM牌,利用光学波长来侦测等离子蚀刻的终点 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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光电探测器(品牌SEMILAB,用于探测光电强度,硅晶测试 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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位置传感器(品牌:ASM,通过光电原理感应晶片是否到指定位置,制造晶片的外延炉用零件) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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光信号传感器(品牌ESI,激光钻孔加工系统用零件,用于 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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光信号传感器(品牌ESI,激光钻孔加工系统用零件,用于 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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膜片侦测位置检测设备 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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光学测量装置/用于机台内测量距离,光学原理测量 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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光信号感测器(品牌:KLA-TENCOR,晶片缺陷检测仪专用零件,由光电传感器,电路板,和外壳组成,传感器感测光信号,通过电路板转换成机台可识别的电信号) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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在线雾盖检测设备 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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连接原件光学检测装置 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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照度计(品牌OAI,用于检测晶片表面的光亮度,通过测光探头吸光后把光能转换成电能在界面产生光电效应,从而测的数据) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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照度计(品牌USHIO,用于检测晶片表面的光亮度,通过测光探头吸光后把光能转换成电能在界面产生光电效应,从而测的数据) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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偏光贴合检测设备 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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眼镜设备(查仪) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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