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制造半导体器件时检验半导体晶片、器件或检测光掩模或光栅用

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终端机卡接口测试仪 9031410000 [税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具 [第90章其他税目未列名的] 		13% 详情
太阳能电池片测试仪 9031410000 [税目]
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光致发光硅片测试仪 9031410000 [税目]
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晶圆厚度综合测试仪 9031410000 [税目]
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激光器芯片窄脉冲测试仪 9031410000 [税目]
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旧离子测试仪/七成新 9031410000 [税目]
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旧校平测试仪/七成新 9031410000 [税目]
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旧微粒测试仪/六成新 9031410000 [税目]
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旧芯片微粒测试仪/七成新 9031410000 [税目]
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旧硅片浓度测试仪/七成新 9031410000 [税目]
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旧BUMP测试仪/七成新 9031410000 [税目]
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太阳能组件测试仪BXM-2012SA 9031410000 [税目]
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移动终端智能卡接口单线协议测试仪 9031410000 [税目]
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颗粒测试仪(旧)/检测硅片表面颗粒情况 9031410000 [税目]
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旧硅片膜厚测试仪/七成新 9031410000 [税目]
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旧硅片厚膜测试仪/七成新 9031410000 [税目]
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旧芯片翘曲度测试仪/七成新 9031410000 [税目]
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膜厚测试仪（旧）/测量晶圆表面膜厚 9031410000 [税目]
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膜厚测试仪(旧)/测量晶圆表面胶膜膜厚 9031410000 [税目]
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