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90314

其他光学仪器及器具:

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传感器(用于制造半导体器件设备等,光学传感器,品牌BAY ADVANCED,功能是利用光学原理达到感应物体位移状况的目的,非光栅测量装置) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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终点探测器,制造半导体器件的干法刻蚀机用,LAM牌,利用光学波长来侦测等离子蚀刻的终点 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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线性位移测量仪(用于制造半导体器件设备上,品牌CYMATIX,通过激光扫描游标所产生的光电随电机移动,传送到光栅尺上,测量出电机运动的线性位移量,检测对象是电机机械运动位移量,无测量结果显示) 9031492000 [税目]
光栅测量装置 [第90章其他品目未列名的]
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线性位移测量仪(用于制造半导体器件设备上,品牌LS MECAPION,通过激光扫描游标所生产的光电随电机移动,传送到光栅尺上,测量出电机运动的线性位移量,检测对象是电机机械运动位移量,无测量结果显示) 9031492000 [税目]
光栅测量装置 [第90章其他品目未列名的]
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线性位移测量仪(用于制造半导体器件设备上,品牌APPLIED MATERIALS,通过激光扫描游标所产生的光电随电机移动,传送到光栅尺上,测量同电机运动的线性位移量,检测对象是电机机械运动位移量,无测量结果显示) 9031492000 [税目]
光栅测量装置 [第90章其他品目未列名的]
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线性位移测量仪(用于制造半导体器件设备上,品牌APPLIED MATERIALS,通过激光扫描游标所产生的光电随电机移动,传送到光栅尺上,测量出电机运动的线性位移量,检测对象是电机机械运动位移量,无测量结果显示) 9031492000 [税目]
光栅测量装置 [第90章其他品目未列名的]
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线性位移测量仪(用于制造半导体器件设备上,品牌APPLIED MATERIALS,通过激光扫描游标所产生的光电随电机移动,传送到光栅尺上,测量出电机 运动的线性位移量,检测对象是电机机械运动位移量,无测量结果显示) 9031492000 [税目]
光栅测量装置 [第90章其他品目未列名的]
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