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9031

本章其他税号未列名的测量或检验仪器、器具及机器;轮廓投影仪:

申报实例 商品编码 出口退税率 监管条件 检验检疫 更多信息
硅片缺陷检测仪零部件 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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硅片电阻厚度检测仪 9031809090 [税目]
其他测量、检验仪器、器具及机器 [指第90章其他税目未列名的]
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硅片电池片测试仪(旧) 9031809090 [税目]
其他测量、检验仪器、器具及机器 [指第90章其他税目未列名的]
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硅片电池片测试仪(修理费) 9031809090 [税目]
其他测量、检验仪器、器具及机器 [指第90章其他税目未列名的]
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硅片厚度检测仪用检测模组 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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硅片表面缺陷检查仪(旧) 9031410000 [税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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硅片表面缺陷光学检查仪(旧) 9031410000 [税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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硅片缺陷测试仪专用激光反射模块 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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硅片浓度测试仪/七成新 9031410000 [税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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硅片磨盘水平测试仪(旧) 9031802000 [税目]
坐标测量仪
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超声波传感器(切割硅片机床用,工业通用,MEYER 9031809090 [税目]
其他测量、检验仪器、器具及机器 [指第90章其他税目未列名的]
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硅片平台(旧)/迭置重合检测设备用 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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颗粒测试仪(旧)/检测硅片表面颗粒情况 9031410000 [税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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硅片膜厚测试仪/七成新 9031410000 [税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
13% 详情
硅片厚膜测试仪/七成新 9031410000 [税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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位置传感器(ASML,通过电磁感应原理校准硅片硅片平台上的位置,未装有读数装置,光刻机专用) 9031809090 [税目]
其他测量、检验仪器、器具及机器 [指第90章其他税目未列名的]
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硅片托盘(品牌SEMILAB,专用于红外探伤仪,塑料制,承载 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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光电传感器,硅片清洗机用,SCREEN,无测试结果显示 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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位置传感器,硅片清洗机用,SCREEN,无测试结果显示 9031809090 [税目]
其他测量、检验仪器、器具及机器 [指第90章其他税目未列名的]
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超声波传感器(切割硅片机床用,用过声波检测物体的位置 9031809090 [税目]
其他测量、检验仪器、器具及机器 [指第90章其他税目未列名的]
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