|
|
|
|
|
|
|
|
|
申报实例
|
商品编码
|
出口退税率
|
监管条件
|
检验检疫
|
更多信息
|
|
测试板修理费（旧半导体器件光学测试封装机部件）
|
9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件
[第90章其他品目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
传感器(用于制造半导体器件设备等,光学传感器,品牌AMAT,功能是利用光学原理达到感应物体位移状况,非光栅测量装置)
|
9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
传感器(用于制造半导体器件设备等,光学传感器,品牌AMAT,功能是利用光学原理达到感应物体位移状的目的,非光栅测量装置)
|
9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
传感器(用于制造半导体器件设备等,光学传感器,品牌AMAT,功能是利用光学原理达到感应物体位移状况的目的,非光栅测量装置)
|
9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
传感器(用于制造半导体器件设备等,光学传感器,品牌BRILL,功能是利用光学原理达到感应物体位移状况的目的,非光栅测量装置)
|
9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
传感器(用于制造半导体器件设备等,光学传感器,品牌LEVANON,功能是利用光学原理达到感应物体位移状况的目的,非光栅测量装置)
|
9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
传感器(用于制造半导体器件设备等,光学传感器,品牌BUCHANAN,功能是利用光学原理达到感应物体位移状的目的,非光栅测量装置)
|
9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
传感器(用于制造半导体器件设备等,光学传感器,品牌SINFONIA,功能是利用光学原理达到感应物体位移状况的目的,非光栅测量装置)
|
9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
传感器(用于制造半导体器件设备等,光学传感器,品牌SEMITOOL,功能是利用光学原理达到感应物体位移状况的目的,非光栅测量装置)
|
9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
传感器(用于制造半导体器件设备等,光学传感器,品牌BAY ADVANCED,功能是利用光学原理达到感应物体位移状况的目的,非光栅测量装置)
|
9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
终点探测器,制造半导体器件的干法刻蚀机用,LAM牌,利用光学波长来侦测等离子蚀刻的终点
|
9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
内引线键合拉力及芯片剪切力测试仪;将力学信号转为电子信号,分析数据;芯片电极;DAGE;测试实验室半导体器件焊接牢固性
|
9031809090 [税目]
其他测量、检验仪器、器具及机器
[指第90章其他税目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
光电转换器(用于制造半导体器件设备电子束测试机台内部上,通过光电转换原理将电子信号收集后放大转换成图像信息,品牌:应用材料定制,型号:0241-58455,非简易二极管或者光电耦合器)
|
9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件
[第90章其他品目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
高度测量计(用于制造半导体器件设备上,品牌AMAT,通过内部的检测集成电路板来测量,检测对象是机台水平高度,有测试结果显示,显示高度值)
|
9031809090 [税目]
其他测量、检验仪器、器具及机器
[指第90章其他税目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
校准仪(专用于制造半导体器件设备缺陷检查设备,品牌APPLIED MATERIALS,用于半导体设备生产中的晶圆方向的预设及方向校正,无测试结果显示)
|
9031809090 [税目]
其他测量、检验仪器、器具及机器
[指第90章其他税目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
间距测量仪(用于制造半导体器件设备上测量腔室内部的间隙的距离,品牌APPLIED MATERIALS,通过金属探头感应来测量,检测对象是间隙距离距离,无测试结果显示)
|
9031809090 [税目]
其他测量、检验仪器、器具及机器
[指第90章其他税目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
水平检测仪(用于制造半导体器件设备上测量电子能量的大小,品牌APPLIED MATERIALS,通过内部的检测集成电路板来测量,检测对象是机台电子能量,无测试结果显示)
|
9031809090 [税目]
其他测量、检验仪器、器具及机器
[指第90章其他税目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
线性位移测量仪(用于制造半导体器件设备上,品牌CYMATIX,通过激光扫描游标所产生的光电随电机移动,传送到光栅尺上,测量出电机运动的线性位移量,检测对象是电机机械运动位移量,无测量结果显示)
|
9031492000 [税目]
光栅测量装置
[第90章其他品目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
线性位移测量仪(用于制造半导体器件设备上,品牌LS MECAPION,通过激光扫描游标所生产的光电随电机移动,传送到光栅尺上,测量出电机运动的线性位移量,检测对象是电机机械运动位移量,无测量结果显示)
|
9031492000 [税目]
光栅测量装置
[第90章其他品目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
线性位移测量仪(用于制造半导体器件设备上,品牌APPLIED MATERIALS,通过激光扫描游标所产生的光电随电机移动,传送到光栅尺上,测量同电机运动的线性位移量,检测对象是电机机械运动位移量,无测量结果显示)
|
9031492000 [税目]
光栅测量装置
[第90章其他品目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|