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90308200

测试或检验半导体晶片或器件用

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亚毫米波测试仪/带记录装置 9030820000 [税目]
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集成电路及原片测试分析装置 9030820000 [税目]
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图示仪(不带记录装置) 9030820000 [税目]
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半导体晶片检测用探头装置 9030820000 [税目]
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半导体器件分析仪/带记录装置 9030820000 [税目]
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微机电力变压器故障录波分析装置 9030820000 [税目]
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高温超导材料特性测试装置 9030820000 [税目]
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超声波频率测试仪(带记录装置) 9030820000 [税目]
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电流-电压测试系统/不带记录装置 9030820000 [税目]
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太阳能电池板电容和阻抗检测装置 TESTER 9030820000 [税目]
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半导体特性分析系统（带记录装置） 9030820000 [税目]
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微机发电机变压器组故障滤波分析装置 9030820000 [税目]
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晶圆表面金属膜层阻抗测试装置 9030820000 [税目]
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半导体参数分析仪;分析器件半导体特性;Agilent;带记录装置 9030820000 [税目]
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测试机,用途:测试集成电路芯片,品牌:TERADYNE,功能:测试集成电路芯片,是否带记录装置:是,有无测试结果显示:有,显示何种指标:合格或不合格 9030820000 [税目]
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