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9031

本章其他税号未列名的测量或检验仪器、器具及机器;轮廓投影仪:

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工件位置检测传感器专用零件(信号发出部件) 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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金属检测金检头用信号输入电路板 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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记忆卡/晶圆缺陷检测零件 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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光学缺陷检测设备用图像处理模块 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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阻移块(品牌:KLA-TENCOR,塑料制,固定于导轨上阻挡平台 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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阻移块(品牌:KLA-TENCOR,塑料制,固定于导轨上阻挡 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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位置传感器(品牌:ASM,制造晶片的外延炉专用零件,通过 9031809090 [税目]
其他测量、检验仪器、器具及机器 [指第90章其他税目未列名的]
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位移检测器零件信号分配 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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红外线表面缺陷检测 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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硅片缺陷检测零部件 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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晶圆缺陷检测 9031410000 [税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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半导体缺陷测试检测 9031410000 [税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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薄膜表面缺陷检测 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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光缆表面缺陷检测 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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校准(专用于制造半导体器件设备缺陷检查设备,品牌APPLIED MATERIALS,用于半导体设备生产中的晶圆方向的预设及方向校正,无测试结果显示) 9031809090 [税目]
其他测量、检验仪器、器具及机器 [指第90章其他税目未列名的]
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水平检测(用于制造半导体器件设备上测量电子能量的大小,品牌APPLIED MATERIALS,通过内部的检测集成电路板来测量,检测对象是机台电子能量,无测试结果显示) 9031809090 [税目]
其他测量、检验仪器、器具及机器 [指第90章其他税目未列名的]
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驱动电路板(平衡检测零件) 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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驱动电路板(高度检测零件) 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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光学检测零件电路板 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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纸张质量检测零件(电路板) 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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