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90314

其他光学仪器及器具:

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光信号感测器(品牌:KLA-TENCOR,晶片缺陷检测专用,装 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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自相关/型号:FR-103WS/IR/FA/1800/3000 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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光电传感器(品牌:KLA-TENCOR,晶片缺陷检测专用零件,感应并传输光电信号,带电缆) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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光电传感器(品牌:KLA-TENCOR,晶片缺陷检测专用零件,感应光电信号并传输,带电缆) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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光电传感器(品牌:KLA-TENCOR,带电缆,晶片缺陷检测用零件,感应并传输光电信号) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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光信号传感器(品牌RUDOLPH,感应光信号并转换传输部件的位置信号,晶片缺陷检测用) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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激光对中;测量传动设备的安装同轴度;通过测量旋转部件的位移变化量,计算出设备的旋转中心线;Fixturlaser 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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光信号传感器(品牌:KLA-TENCOR,晶片缺陷检测专用,用于感测并传输光信号,无信号转换部件) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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激光测振;用于新型号卫星设计过程中的结构动力学试验;POLYTEC;实现对振动信号的非接触式测量 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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晶片表面检测组件(品牌:KLA-TENCOR,利用光学原理检测晶片表面的平整度,晶片缺陷检测用,由传感器,反射镜,透镜和固定支架组成) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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光信号感测器(品牌:KLA-TENCOR,晶片缺陷检测专用零件,由光电传感器,电路板,和外壳组成,传感器感测光信号,通过电路板转换成机台可识别的电信号) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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晶片感测器(品牌:SUNX,利用光学射线原理感应晶片的前方是否有障碍物,晶片缺陷检测用,含光源发射和接收两个部件) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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洁净度检测,用途(适用机型):用于为颗粒计数及分析,并测量样品清洁等级.可应用于测量0.5-400微米直径的颗粒.具体分析功能,显示为ISO4406 1999对应颗粒物数量级别的样品清洁等级 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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