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晶片感测器(品牌:SUNX,利用光学射线原理感应晶片的前方是否有障碍物,晶片缺陷检测仪用,含光源发射和接收两个部件)
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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洁净度检测仪,用途(适用机型):用于为颗粒计数及分析,并测量样品清洁等级.可应用于测量0.5-400微米直径的颗粒.具体分析功能,显示为ISO4406 1999对应颗粒物数量级别的样品清洁等级
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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