过滤过期编码

在"第18类"里共243459个搜索结果:

第18类

光学、照相、电影、计量、检验、医疗或外科用仪器及设备、精密仪器及设备;钟表;乐器;上述物品

申报实例 商品编码 出口退税率 监管条件 检验检疫 更多信息
重力测量装置 9031809090 [税目]
其他测量、检验仪器、器具及机器 [指第90章其他税目未列名的] 		13% 详情
摄影测量用装置 9015400000 [税目]
摄影测量用仪器及装置 		13% 详情
测量压力的装置 9026209090 [税目]
其他测量、检验压力的仪器及装置 		13% 详情
水平测量装置 9031809090 [税目]
其他测量、检验仪器、器具及机器 [指第90章其他税目未列名的] 		13% 详情
激光测量装置 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的] 		13% 详情
卡簧厚度测量装置 9031809090 [税目]
其他测量、检验仪器、器具及机器 [指第90章其他税目未列名的] 		13% 详情
轴功率测量装置
第18类
光学、照相、电影、计量、检验、医疗或外科用仪器及设备、精密仪器及设备;钟表;乐器;上述物品
90
光学、照相、电影、计量、检验、医疗或外科用仪器及设备、精密仪器及设备;上述物品的零件、附件
9024109000[税目]
其他金属材料的试验用机器及器具
13% 详情
9030390000[税目]
其他带记录装置的检测电压、电流、电阻或功率的仪器 [万用表除外,用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
13% 详情
张力测量装置主板 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的] 		13% 详情
传感器(用于制造半导体器件设备等,光学传感器,品牌AMAT,功能是利用光学原理达到感应物体位移状况,非光栅测量装置) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的] 		13% 详情
传感器(用于制造半导体器件设备等,光学传感器,品牌AMAT,功能是利用光学原理达到感应物体位移状的目的,非光栅测量装置) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的] 		13% 详情
传感器(用于制造半导体器件设备等,光学传感器,品牌AMAT,功能是利用光学原理达到感应物体位移状况的目的,非光栅测量装置) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的] 		13% 详情
传感器(用于制造半导体器件设备等,光学传感器,品牌BRILL,功能是利用光学原理达到感应物体位移状况的目的,非光栅测量装置) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的] 		13% 详情
传感器(用于制造半导体器件设备等,光学传感器,品牌LEVANON,功能是利用光学原理达到感应物体位移状况的目的,非光栅测量装置) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的] 		13% 详情
传感器(用于制造半导体器件设备等,光学传感器,品牌BUCHANAN,功能是利用光学原理达到感应物体位移状的目的,非光栅测量装置) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的] 		13% 详情
传感器(用于制造半导体器件设备等,光学传感器,品牌SINFONIA,功能是利用光学原理达到感应物体位移状况的目的,非光栅测量装置) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的] 		13% 详情
传感器(用于制造半导体器件设备等,光学传感器,品牌SEMITOOL,功能是利用光学原理达到感应物体位移状况的目的,非光栅测量装置) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的] 		13% 详情
传感器(用于制造半导体器件设备等,光学传感器,品牌BAY ADVANCED,功能是利用光学原理达到感应物体位移状况的目的,非光栅测量装置) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的] 		13% 详情
CT角度测量装置用测量环 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的] 		13% 详情
CT角度测量装置用测量头 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的] 		13% 详情