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第90章

光学、照相、电影、计量、检验、医疗或外科用仪器及设备、精密仪器及设备;上述物品的零件、附件

申报实例 商品编码 出口退税率 监管条件 检验检疫 更多信息
晶片表面检测组件(品牌:KLA-TENCOR,利用光学原理检测晶片表面的平整度,晶片缺陷检测用,由传感器,反射镜,透镜和固定支架组成) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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数据信号分析板(品牌:KLA-TENCOR,晶片缺陷 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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晶片盒开启装置(品牌:SHINKO,晶片缺陷检测专用零件, 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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固定件(品牌KLA-TENCOR,光掩膜缺陷分析专用零件,铝制, 机台内用于固定光罩) 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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托盘(品牌:KLA-TENCOR,光掩膜缺陷分析专用零件,铝合金制,用于机台内承托光掩膜) 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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晶片缺陷检测零件 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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晶片盒开启装置(品牌:SHINKO,晶片缺陷检测专用零件,由马达,气管,气阀,传动轴,电路板,传感器,电缆,支架和外框架组成,用于开启晶片盒) 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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固定架(品牌:KLA-TENCOR,盘片表面缺陷检测专用,已制成特定形状,不锈钢制,安装机台内用于支撑和固定硬盘盘片) 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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光电传感器(品牌:OPHIR,晶片缺陷检测专用零件,感应 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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探针(品牌RUDOLPH,钢铁制,晶片缺陷检测专用零件,用 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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固定块(品牌RUDOLPH,晶片缺陷检测专用零件,铝制,用 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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固定件(品牌RUDOLPH,晶片缺陷检测专用零件,铝制,已 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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盖板(品牌:LDS,晶片缺陷检测专用零件,已制成特定形 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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导轨(品牌:THK,晶片缺陷检测专用零件,已制成特定形 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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真空吸盘(品牌:ADE,晶片缺陷检测专用零件,已制成特 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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真空吸盘(品牌:ADE,晶片缺陷检测专用零件,已制成 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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顶针(品牌:SHINKO,晶片缺陷检测专用零件,已制成特定 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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顶针(品牌:SHINKO,晶片缺陷检测专用零件,已制成 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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端口扩展卡(品牌:IBM,晶片缺陷检测专用零件,用于机 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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真空传感器(品牌:SMC,晶片缺陷检测专用零件,用于感 9026809000 [税目]
液体或气体的其他测量或检验仪器 [除液体流量或液位及压力以外的其他变量的检测仪器]
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