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9031

本章其他税号未列名的测量或检验仪器、器具及机器;轮廓投影仪:

申报实例 商品编码 出口退税率 监管条件 检验检疫 更多信息
上料碗器件筛选传感器零件(安装套,模块) 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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多通过振动测试仪配件(双通道模拟量输入模块) 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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离合器分离系统测试台;离合器分离系统压力,行程,扭力,温度参数的测试;LUK 9031200090 [税目]
其他试验台
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超声波扫描检测系统;SONIX;超声波扫描成像;IT行业,检测半导体封装产品是否存在刮伤、黑点、异物 9031809090 [税目]
其他测量、检验仪器、器具及机器 [指第90章其他税目未列名的]
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自动光学晶圆检验机;Camtek;IT行业,测量晶圆的划伤、裂痕表面状态 9031410000 [税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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前期故障诊断仪;汽车动力总成耐久性试验;RHF;自动对比异常信号频谱和参考频谱,判断故障情况;RHF 9031809090 [税目]
其他测量、检验仪器、器具及机器 [指第90章其他税目未列名的]
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转棒仪;Med Associate;动物跌落时,会打断光束并记录数据,再分析;测定药物对运动协调性及疲劳的影响 9031809090 [税目]
其他测量、检验仪器、器具及机器 [指第90章其他税目未列名的]
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光学形变测量仪;考察汽车零件的非线性变形,疲劳试验;测量零件负载后表面全场的三维变形和应变分布;ARAMIS 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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多条件行为测试系统;TSE Systems;调解各种刺激质量,选择模块进行实验;恐惧条件,位置偏好行为的测试 9031809090 [税目]
其他测量、检验仪器、器具及机器 [指第90章其他税目未列名的]
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1/f噪声测试系统;Cascade;用于测试SOI器件的1/f噪声;半导体晶圆电子器件噪声参数测试;噪声参数测试 9031809090 [税目]
其他测量、检验仪器、器具及机器 [指第90章其他税目未列名的]
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红外热像仪;FLIR;红外线或热成像技术;切削过程动态温度测试分析;磨削温度场,切削温度场 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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直剪仪;Humboldt;用于确定建筑物地基承载力;根据库仑定律确定土的抗剪强度指标;测试土的抗剪强度指标 9031809090 [税目]
其他测量、检验仪器、器具及机器 [指第90章其他税目未列名的]
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环境风洞设备用空调性能数据处理系统;风洞实验过程中的温度,风量,转速指标进行测量;通过传感器测试;SYSTEL 9031809090 [税目]
其他测量、检验仪器、器具及机器 [指第90章其他税目未列名的]
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轮速传感器;KISTLER;测量车轮转速,距离,速度信号;车轮试验用;通过脉冲数量得到旋转车轮相关数据 9031809090 [税目]
其他测量、检验仪器、器具及机器 [指第90章其他税目未列名的]
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传感器(用于制造半导体器件设备,光学传感器,品牌AMAT,功能是利用光学原理达到感应物体位移状况,非光栅测量装置) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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传感器(用于制造半导体器件设备,光学传感器,品牌AMAT,功能是利用光学原理达到感应物体位移状的目的,非光栅测量装置) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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传感器(用于制造半导体器件设备,光学传感器,品牌AMAT,功能是利用光学原理达到感应物体位移状况的目的,非光栅测量装置) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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传感器(用于制造半导体器件设备,光学传感器,品牌BRILL,功能是利用光学原理达到感应物体位移状况的目的,非光栅测量装置) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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传感器(用于制造半导体器件设备,光学传感器,品牌LEVANON,功能是利用光学原理达到感应物体位移状况的目的,非光栅测量装置) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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传感器(用于制造半导体器件设备,光学传感器,品牌BUCHANAN,功能是利用光学原理达到感应物体位移状的目的,非光栅测量装置) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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