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9030

示波器、频谱分析仪及其他用于电量测量或检验的仪器和装置,但不包括税目90.28的各种仪表;α射线、β射线、γ射线、Χ射线、宇宙射线或其他离子射线的测量或检验仪器及装置:

申报实例 商品编码 出口退税率 监管条件 检验检疫 更多信息
探头(品牌SOPRA,测试透过率和雾度,无测试结果显示,椭偏仪用) 9030900090 [税目]
品目9030所属货品的零件及附件
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时钟信号产生板(品牌:ADVANTEST,集成电路自动测试系统专用,产生并传输时钟信号,非通用信号) 9030900090 [税目]
品目9030所属货品的零件及附件
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连接件(品牌ESI,多功能测试机专用零件,已制成特定形状,机台内连接接线端口用,铜制) 9030900090 [税目]
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测试接口板(品牌ADVANTEST,集成电路自动测试系统专用零件,连接测试机和被测元器件) 9030900090 [税目]
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信号转换板(品牌:TERADYNE,集成电路自动测试系统专用零件,将模拟信号转换成数字信号后输出) 9030900090 [税目]
品目9030所属货品的零件及附件
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信号侦测板(品牌:ADVANTEST,集成电路自动测试系统专用零件,当系统信号异常时,就中断信号) 9030900090 [税目]
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测试信号处理板(品牌:ADVANTEST,集成电路自动测试系统专用零件,接收处理并传输测试信号数据) 9030900090 [税目]
品目9030所属货品的零件及附件
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时钟信号产生板(品牌:ADVANTEST,集成电路自动测试系统专用零件,产生时钟信号,非通用信号) 9030900090 [税目]
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固定座(品牌ESI,不锈钢制,固定备件用,已制成特定形状,多功能测试机专用零件) 9030900090 [税目]
品目9030所属货品的零件及附件
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连接件(品牌ESI,多功能测试机专用零件,已制成特定形状,机台内连接测试仪用,铜制) 9030900090 [税目]
品目9030所属货品的零件及附件
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探头(品牌SEMILAB,微波探测装置,通过线圈产生微波检测硅片载流子寿命变化,硅晶片测试仪用) 9030900090 [税目]
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测试机,用途:测试集成电路芯片,品牌:TERADYNE,功能:测试集成电路芯片,是否带记录装置:是,有无测试结果显示:有,显示何种指标:合格或不合格 9030820000 [税目]
测试或检验半导体晶圆或器件用的仪器
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手环脚环测试器,用途:对手环脚环进行测试,品牌:DESCO,功能:测试手环脚环,不带记录装置,无测试结果显示 9030899090 [税目]
其他电量的测量或检验仪器及装置 [未装有记录装置的]
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真空环(品牌ESI,多功能测试机专用,已制成特定形状,起支撑测试盘,吸附被测元件的作用,钢铁制) 9030900090 [税目]
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真空环(品牌ESI,多功能测试机专用零件,钢铁制,已制成特定形状,起支撑测试盘,吸附被测元件用) 9030900090 [税目]
品目9030所属货品的零件及附件
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测试信号比较板(品牌CREDENCE,集成电路自动测试系统专用零件,接收芯片产生的测试信号和测试程序的期望值进行比较) 9030900090 [税目]
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直流信号测试板(品牌ADVANTEST,集成电路自动测试系统专用零件,通过加载直流电平测量负载电流的大小,无测试结果显示) 9030900090 [税目]
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探头(品牌SEMILAB,涡流场原理测试硅片电阻率,硅晶片电阻率测试仪用,无测试结果显示,不显示指标) 9030900090 [税目]
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多通道电化学工作站;用于电池,电容器,传感器等电化学研究;AMETEK;对样品施加电位或电流信号,使其内部发生化学反应,再记录其电压,电流变化;带记录装置 9030899090 [税目]
其他电量的测量或检验仪器及装置 [未装有记录装置的]
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J750混合信号测试数字测试部分通道板(电路板);被测器件的模拟信号做数模转换后输送到计算机上计算,用于测试半导体晶元(适用于J750测试机);泰瑞达 9030900001 [税目]
检测半导体晶片及器件的仪器零件 [包括附件]
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