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903149
(349)
90314100
(42)
在"90314"里共391个搜索结果:
90314
其他光学仪器及器具:
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监管条件
检验检疫
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迷你型摄像头标准光源色彩
测试仪
9031499090
[税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
13%
详情
摄像头标准多光谱可调光源
测试仪
9031499090
[税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
13%
详情
移动终端智能卡接口单线协议
测试仪
9031410000
[税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
13%
详情
摄像头标准光源色彩曝光增益
测试仪
9031499090
[税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
13%
详情
碧欧泉Aramo-smart 皮肤
测试仪
9031499090
[税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
13%
详情
秒时
测试仪
投光部7FDC-5100S270V
9031499090
[税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
13%
详情
秒时
测试仪
(本体)7FDC-5100S270V
9031499090
[税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
13%
详情
颗粒
测试仪
(旧)/检测硅片表面颗粒情况
9031410000
[税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
13%
详情
秒时
测试仪
(本体) FP SHUTTER TESTER(MAIN BODY)
9031499090
[税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
13%
详情
自动评价
测试仪
/蓝光光盘生产用
9031499010
[税目]
光盘质量在线检测仪及离线检测仪
13%
详情
旧硅片膜厚
测试仪
/七成新
9031410000
[税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
13%
详情
旧硅片厚膜
测试仪
/七成新
9031410000
[税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
13%
详情
薄膜应力分布
测试仪
(品牌:东朋.株式会社)
9031499090
[税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
13%
详情
旧芯片翘曲度
测试仪
/七成新
9031410000
[税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
13%
详情
旧晶片表面缺陷
测试仪
,原价JPY3000000/台
9031499090
[税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
13%
详情
旧晶片表面缺陷
测试仪
,原价JPY300000/台
9031499090
[税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
13%
详情
彩色图像亮度和色度
测试仪
/旧/航材
9031499090
[税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
13%
详情
膜厚
测试仪
(旧)/测量晶圆表面膜厚
9031410000
[税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
13%
详情
膜厚
测试仪
(旧)/测量晶圆表面胶膜膜厚
9031410000
[税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
13%
详情
激光多普勒
测试仪
;Sunny;振动测量;激光多普勒原理;非接触式振动测量
9031499090
[税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
13%
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