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90308200

测试或检验半导体晶片或器件用

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记忆卡测试 9030820000 [税目]
测试或检验半导体晶圆或器件用的仪器
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PCB板测试 9030820000 [税目]
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飞针测试 9030820000 [税目]
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晶圆测试 9030820000 [税目]
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分立器件测试 9030820000 [税目]
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测试分选/NT116 9030820000 [税目]
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自动测试(旧) 9030820000 [税目]
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U盘测试 TESTER 9030820000 [税目]
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集成块测试(旧)TESTER 9030820000 [税目]
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集成块测试(旧) TESTER 9030820000 [税目]
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贴片件测试 9030820000 [税目]
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晶圆片测试 9030820000 [税目]
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晶片电性测试 9030820000 [税目]
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光伏晶圆测试 9030820000 [税目]
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玻封二极管测试 9030820000 [税目]
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激光器巴条测试 9030820000 [税目]
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晶体管电参测试 9030820000 [税目]
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(旧)晶圆测试 9030820000 [税目]
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电源管理IC测试 9030820000 [税目]
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旧LED光电测试 9030820000 [税目]
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